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贴片电解电容dglangxun合理测试的方法有哪些
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产 品: 贴片电解电容dglangxun合理测试的方法有哪些 
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更新日期: 2012-07-20  有效期至:长期有效
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贴片电解电容dglangxun合理测试的方法有哪些详细说明
  1.正负温变化率测试,即-40度到+60度状况下,贴片钽电容的变化率;
  
    2.串联电阻测试,绝缘电阻测试;
 
    3.拉力测试,即引线与芯片焊接的牢固度;

    4.耐压实验,包括额定工作电压24小时工作测试;也包括击穿耐压,即破坏性测试,贴片电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压。

    5.局放测试,即局部放电测试;

    6.寿命测试,贴片电解电容即在老化测试的基础上,再对电容进行高频冲电流下快速充放电测试,得到的充放电次数就是充放电寿命,注意,这个寿命的得出是在长时间的老化之后得出的

    7.老化测试,高压陶瓷电容在模拟工作环境状态下运作30~60天,贴片电解电容www.dglangxun.com测试其衰减其各项参数的变化;

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